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Relação de Serviços do Laboratório
Descrição do Serviço
(Calibração / Medição)
Faixa de medição Capacidade de Medição e Calibração (CMC)
MEDIDAS DE TENSÃO AC
Fonte de Tensão 1 mV a 1 kV, 10 Hz a 1MHz 55,5 μV a 43,9 mV
Medidor de Tensão 2 mV a 1 kV, 10 Hz a 1MHz 4,2 μV a 94 mV
MEDIDAS DE TENSÃO DC
Padrão de Tensão de Estado Sólido (Zener) 10 V 0,7 µV
Fonte de Tensão 100 mV a 1 kV 0,42 μV a 4,6 mV
Medidores de Tensão 100 mV a 1 kV 0,81 μV a 11 mV
MEDIDAS DE CORRENTE AC
Padrão de Transferência de Corrente (A40) de AC/DC 10 mA a 20 A, 1 kHz a 10 kHz 70 ppm a 190 ppm
Fonte de Corrente 100 μA a 10 A, 300 Hz a 10 kHz 35,06 nA a 5,821 mA
Medidor de Corrente 100 μA a 1 A, 1 kHz 0,12 μA a 1,2 mA
MEDIDAS DE CORRENTE DC
Fonte de Corrente 100 μA a 10 A 2,3 nA a 5,11 mA
Medidor de Corrente 100 μA a 1 A 18 nA a 260 μA
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE CONTÍNUA
Resistor 1 mW a 10 mW 0,016 mW a 0,09 mW
100 mW 18,6 μW/W
1 W 6,6 μW/W
10 W 5,6 μW/W
100 W 6,5 μW/W
1 kW 4,8 μW/W
10 kW 4,4 μW/W
100 kW 4,9 μW/W
1 MW 6,4 μW/W
10 MW 60 W
Medidores de Resistência 10 W a 10 MW 68 mW a 36 W
Calibrador 1 W a 19 MW 18 mW a 39 W
MEDIDAS DE RESISTÊNCIA EM CORRENTE ALTERNADA
Medidores de RCL 100 W, 20 Hz a 96 kHz 1 mW a 2 mW
1 kW, 20 Hz a 1kHz 10 W a 20 W
MEDIDAS DE CAPACITÂNCIA
Capacitor Padrão 1 pF (1 kHz) 0,000022 pF
10 pF (1 kHz) 0,000092 pF
100 pF (1 kHz) 0,0025 pF
1000 pF (1 kHz) 0,019 pF
10 nF (1 kHz) 0,00059 nF
100 nF (1 kHz) 0,00093 nF
1000 nF (1 kHz) 0,022 nF
Medidores de RCL 10 pF a 1 μF (1 kHz) 0,4x10-3 pF a 90 nF
MEDIDAS DE INDUTÂNCIA
Indutor Padrão 100 mH, 1 kHz 0,017 mH
Medidores de RCL 100 mH, 1 kHz 0,01 mH
MEDIDAS DE FREQUÊNCIA
Frequência 10 MHz 7,63x10-13 (Δf/f)
MEDIDAS DE ALTA FREQUÊNCIA
Frequência 100 kHz a 26,5 GHz (10-10 a 10-8) partes/dia
Nível (-60 a +16) dBm 0,8% a 3,2%
Observações:
1- A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%.
2- O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.
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